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产品介绍

X射线小角度散射分析仪,纳米结构分析设备

适用领域

Analysis

TVXA-ENIF1 (SAXS)(韩国Techvalley)

- X射线小角度散射分析仪 (Small Angle X-ray Scattering)
- 半导体材料,蛋白质,药物等的分析
- 纳米结构分析设备- 尺寸,尺寸分布,形状,方向
- 纳米材料,纳米复合材料,高分子分析


 
分析信息


TVXA-ENIF1 (SAXS)(韩国Techvalley)

 
产品规格


Incident beam Wavelength 1.54A / 8keV (Cu Kα)
Divergence ~ 0.4mrad FW20%M Both Planes
Beam size at focus 1.1 X 1.5㎟ at Mirror Exit
Distance Sample-to-Detector ~ 1.45 Meter
Slit Beam collimation 2 Sets of adjustable slits
Beam stopper Size 1.5 ~ 5Ø
Detector 2D-Positioning sensitive detector
Scattered beam Qmin
Beam flux at sample
position
(50kV, 0.6mA)
0.1076